牛津X-Strata920荧光镀层测厚光谱仪
- 产品编号 : X-Strata920
- 快速可靠的X射线荧光镀层厚度测量及材料分析，低成本、高效率!速，精确的分析:大面积正比计数探测器和牛津仪器50瓦微聚焦X射线光管(X射线光束强度大，斑点小，样品激发佳）相结合，提供z佳灵敏度
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产品描述
X-Strata920
快速可靠的X射线荧光镀层厚度测量及材料分析，低成本、高效率!速，精确的分析:大面积正比计数探测器和牛津仪器50瓦微聚焦X射线光管(X射线光束强度大，斑点小，样品激发佳）相结合，提供z佳灵敏度
牛津仪器-值得您信赖的品牌!
●从研发、生产、销售到服务，牛津仪器公司在镀层厚度测量和成份分析领域中拥有20多年丰富经验，为客户提供可靠性高、成本低且效率高的解决方案
●我们已经在世界各地销告超过3000台的台式X射线荧光镀层测厚仪
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X射线荧光(XRF)方法
X射线荧光(XRF)仪器的工作原理是对被测样品发射一-東一次X射线，样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次射线的特征能量和强度，X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。
X射线荧光分析的优点：
X-Strata920符合: |
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电子行业
电子、电气原件
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五金电镀行业 电镀处理的成本z小化，产量z大化 ●快速简单的分析 一同时进行单层或多层镀层厚度 ●测量及成份分析 一*多可分析4层镀层 一镀液成份分析 |
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金属合金行业
金属合金成份分析和牌号认定
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X-Strata920高性能的X射线荧光光谱仪
●快速，精确的分析:大面积正比计数探测器和牛津仪器50瓦微聚焦X射线光管(X射线光束强度大，斑点小，样品激发佳）相结合，提供z佳灵敏度
●简单的元素区分:通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱
●性能优化，可分析的元素范围大
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X-Strata920坚固耐用的设计:
简单的校准步骤：
X-Strata920预置800多种容易选择的应用参数/方法：
镭射聚焦： |
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X-Strata920三种配置选项
以满足您的分析需求
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加深样品台
●高度每半英寸(12.7mm)
可调，架构式样品舱可容
纳*大高度6.3"(160mm)
的样品
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固定样品台
●样品台位置固定
●经济、实用
●平面样品台设计，适合高
度不超过1.3"(33mm)的样
品分析
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程控样品台
用于自动化测量
●方便根据测试位置放置样品，
并精准定位测量点
样品台尺寸: 22"(D) x 24"(w),
即560mm (深) x 610mm (宽)
●程控台移动距离: 7"x7",
即178mmx 178mm
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先进的系统安全性 ●为日常操作员设定简单的、功能受限的 用户界面 ●管理员级别可进入系统进行维护 ●系统使用由操作者登录 ●自动锁定功能防止未授权的操作 |
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结果输出 ●结果可导出 至Excel表格或报告 ●生成自定义 ●用户可自定义统计分析格式 ●包括统计分析数据 ●获取样品图象到报告中 |
814294500
