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MiniTest 1100/2100/3100/4100系列涂层测厚仪
MiniTest 1100/2100/3100/4100系列涂层测厚仪 MiniTest 1100/2100/3100/4100系列涂层测厚仪
  • MiniTest 1100/2100/3100/4100系列涂层测厚仪

  • 产品编号 : MiniTest 1100
  • MiniTest 1100-4100系列涂层测厚仪具有多种用途的耐磨探头可供选择,具有高精确度和重复性,和储存读数文件的功能,具体功能根据主机型号不同而有所差异,MiniTest系列仪器是微型的无损覆层厚度测量仪器。
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产品描述


MiniTest1100是该系列产品中的普及版,没有存储功能和统计功能。操作简单、价格低廉,比较适合-些较特殊的要求,如测量很薄或很厚的覆层。

MiniTest2100主机可以存储一组总共10000个测值,所有测值均可进行统计评价,比较适合测量对象较固定的用户。
MiniTest3100主机可以存储10000个测值,分别存在10应用行内,个应用行又可分为10组。如果不同的测量任务要求经常更换测头进行不同的准,不同的校准参数和测头参数均可分别存储,以便随时调用。可采用多种统方式对测量数据作评估和分析。可以设置极限值对生产过程中出现的容差进行控。

MiniTest4100主机拥有数据处理功能。共可存储10000个测值,分别存99个应用行内,每个应用行又可分为98组。如果不同的测量任务要求经常更测头进行不同的校准,不同的校准参数和测头参数均可分别存储,以便随时调用可对测量数据作评估和分析。可设置极限值对生产过程中出现的容差进行监控.

MiniTest 1100-4100系列涂层测厚仪:

MiniTest 1100-4100系列涂层测厚仪具有多种用途的耐磨探头可供选择,具有高精确度和重复性,和储存读数文件的功能,具体功能根据主机型号不同而有所差异,MiniTest系列仪器是微型的无损覆层厚度测量仪器。多年来EPK公司的测量仪已广泛应用于汽车、造船、航空与机械制造行业以及政府检查机构与尤其、电镀等行业。MiniTest 1100-4100系列涂层测厚仪共有四种主机: 1100、2100、3100和4100,四种主机各自具有不同的数据处理功能。所有的测头都可以配合任一种主机使用。在选择最适用的测头时需考虑覆层厚度、基体材料、基体形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。

        •  F型测头是根据磁感应原理设计的,主要测量钢铁基体.上的非磁性涂镀层。
           ...................例如:铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等,也适用于合金和硬质钢。
        •  N型测头是根据电涡流原理设计的,主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。
           ...................例如:铝、铜、铸锌件.上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。
        •  FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的,
           ...................一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。
        •  喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量。
        •  测量前要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零,才可以保证测量的精确性。


型号及功能:

型号 1100 2100 3100 4100
MINITEST 存储的数据量
应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数) 1 1 10 99
每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计,可设宽容度极限值) - 1 10 99
可用各自的日期和时间标识特性的组数 - 1 500 500
数据总量 1 10000 10000 10000
MINITEST统计计算功能
读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar -
读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - -
组统计值六种x,s,n,max,min,kvar - -
组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - -
存储显示每一个应用行下的所有组内数据 - - -
分组打印以上显示和存储的数据和统计值 - -
显示并打印测量值、打印的日期和时间 -
其他功能
透过涂层进行校准(CTC) -
在粗糙表面上作平均零校准
利用计算机进行基础校准
补偿一个常数(Offset) - -
外设的读值传输存储功能 -
保护并锁定校准设置
更换电池是存储数值
设置极限值 - -
公英制转换
连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别*大*小值 - -
连续测量模式中测量稳定后显示读数 - -
浮点和定点方式数据传送
组内单值延迟显示 -
连续测量模式中显示*小值

可选探头参数(探头图示)

所有探头都可配合任一主机使用。在选择适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层 
N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层 
N两用探头:同时具备F型和N性探头的功能

探头 量程 低端
分辨率
误差 *小曲率
半径(凸/凹)
*小测量
区域直径
*小基
体厚度
探头尺寸
F05 0-500μm 0.1μm ±(1%+0.7μm) 1/5mm 3mm 0.2mm φ15x62mm
F1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm
F1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x170mm
F3 0-3000μm 0.2μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm
F10 0-10mm 5μm ±(1%+10μm) 5/16mm 20mm 1mm φ25x46mm
F20 0-20mm 10μm ±(1%+10μm) 10/30mm 40mm 2mm φ40x66mm
F50 0-50mm 10μm ±(3%+50μm) 50/200mm 300mm 2mm φ45x70mm
N02 0-200μm 0.1μm ±(1%+0.5μm) 1/10mm 2mm 50μm φ16x70mm
N.08Cr 0-80μm 0.1μm ±(1%+1μm) 2.5mm 2mm 100μm φ15x62mm
N1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 2mm 50μm φ15x62mm
N1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 平面/10mm 5mm 50μm φ13x170mm
N10 0-10mm 10μm ±(1%+25μm) 25/100mm 50mm 50μm φ60x50mm
N20 0-20mm 10μm ±(1%+50μm) 25/100mm 70mm 50μm φ65x75mm
N100 0-100mm 100μm ±(1%+0.3mm) 100mm/平面 200mm 50μm φ126x155mm
CN02 10-200μm 0.2μm ±(1%+1μm) 平面 7mm 无限制 φ17x80mm
FN1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 5mm F:0.5mm
N:50μm
φ15x62mm
FN1.6P 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 平面 30mm F:0.5mm
N:50μm
φ21x89mm
FN2 0-2000μm 0.2μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 5mm F:0.5mm
N:50μm
φ15x62mm


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