菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230
- 产品编号 : FISCHERSCOPE X-RAY XDL230
- FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是德国菲希尔 (Fischer) 公司生产的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪，专为高精度涂层厚度测量和材料成分分析设计。作为 XDL 系列的中端型号，它结合了手动操作的灵活性与电动调节的精准性，广泛应用于质量控制和材料研究领域。
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产品描述
菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230工作原理
XDL230 发射高能 X 射线激发样品，使原子内层电子跃迁产生特征 X 射线荧光。探测器收集这些荧光的能量和强度信息，通过基本参数法 (FP 法) 计算得出镀层厚度和元素组成，全程不损伤样品。
应用领域
1. 电镀行业
测量各种电镀层 (铬、镍、铜、锌等) 厚度
监控多层镀层 (如镍 / 铜 / 铬) 的厚度分布
电镀液成分分析 (快速检测金属离子浓度)
2. 电子与半导体
PCB 板镀层测量 (金手指、焊盘等)
连接器镀层检测
微电子器件薄膜测量
3. 汽车与航空
发动机零部件镀层质量控制
航空航天精密零件涂层检测 (满足 ISO 标准)
轮毂、装饰件镀层厚度测量
4. 医疗与珠宝
医用钛合金、不锈钢植入物涂层分析
贵金属饰品镀层 (金、银、铂) 厚度测量
牙科材料涂层检测
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