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德国Elektrophysik(EPK)​MiniTest720/730/740测厚仪
德国Elektrophysik(EPK)​MiniTest720/730/740测厚仪 德国Elektrophysik(EPK)​MiniTest720/730/740测厚仪 德国Elektrophysik(EPK)​MiniTest720/730/740测厚仪
  • 德国Elektrophysik(EPK)​MiniTest720/730/740测厚仪

  • 产品编号 : ​MiniTest720/730/740
  • 新的MiniTest720/730/740涂层测厚仪产品线,加强了德国EPK(Elektrophysik)公司在全球涂层测厚市场的地位。 创新的SIDSP(探头内部数字信号处理)技术提升了测量的精确性 - 测量范围达15mm,可F、N或FN探头,提供内置或外接探头 - FN探头自动识别F(铁磁性)或N(非磁性)基体,操作方便不易出错
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产品描述


德国Elektrophysik(EPK)MiniTest720/730/740测厚仪-----创新的SIDSP技术提升了测量的精确性,新的MiniTest720/730/740涂层测厚仪产品线,提高了了德国EPK(Elektrophysik)公司在涂层测厚市场的地位。MINITEST 700按照人体工学设计,外形很适合人手掌握。为了质量控制和检验的灵活性,MINITEST 740可以轻易由内置探头变换为外置探头,方便测量难以到达的部位。MINITEST 700系列可以满足您所有涂层测量需求:如果您想单手测量,可以选择内置探头的720。730则是外置探头的。所有型号都配有一个超大、背光的显示屏,显示内容可以180度旋转,方便您读取数据。




创新的SIDSP(探头内部数字信号处理)技术提升了测量的精确性
测量范围达15mm,可更换F、N或FN探头,供内置或外接探头使用

FN探头自动识别F(铁磁性)或N(非磁性)基体,操作方便不易出错

SIDSP技术-新技术,智能数字化的涂层测厚探头 

模拟信号处理时代已成过去,数字信号处理将成为未来的趋势


                           


MiniTest720/730/740系列涂层测厚仪预设选项节您的时间和金钱:

所有MINITEST 700探头都可以对不规则形状表面做出补偿。当您在无涂层基体上校零时,整个量程范围都在这个特定的形状和材料基础上进行校准。为节省您的时间和金钱,仪器预设了大量校准方法,适用于各种表面情况和精度要求。您可选择出厂校准,零点校准,2点校准和3点校准。另外,还有针对不同粗糙程度的粗糙度校准。FN探头自动识别基体类型避免操作者犯错。为适应全球销售需要,MINITEST 700满足各种国际标准:SSPC-PA2,ISO,瑞典(SS184160),澳大利亚(AS 3894.3),ISO 19840和ASTM D7091(以前的D1186和D1400)。


MiniTest720/730/740系列涂层测厚仪产品优点

※SIDSP使测量不受干扰,测值更加精确

可更换探头使用更加灵活(MiniTest740探头可由内置换为外置)
FN探头自动识别基体,使测量更迅速,避免操作错误
温度补偿功能避免温度变化引起的错误
生产过程中50点校准使仪器获得高精确度的特征曲线
大存储量,能存储10或100组多达100,000个读数
读数和统计值能单独调出
超大,背光显示屏,显示内容可180度旋转
菜单指引操作,25种语言可选
带IrDA接口,红外线传输数据到打印机和PC

可下载更新软件


                            

SIDSP技术

SIDSP是由ElektrPhysik(简称EPK)研发的,领先涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的创新奠定了新标准。SIDSP即探头内部数字信号处理,这项技术使探头在测量时,同时在探头内部将信号完全处理为数字形式。

SIDSP工作原理?

跟传统技术不同,SIDSP在探头顶部产生和控制激发信号,回传的信号经过32位数字转换和处理,带给您精确的涂层厚度值。此项先进的数字处理技术,同时应用在现代通讯技术(手机网络)方面,如数字滤波器,基带转换,平均值,随机分析,等等。此项技术能获得与模拟信号处理无可比拟的信号质量和精确度。厚度值通过探头电缆数字化传输到显示装置。SIDSP探头与普通模拟探头相比,具有决定性的优势,为涂层测厚设定了一个新的标准。

为什么选择SIDSP?


1、SIDSP探头具有极高的抗干扰性
2、SIDSP-测量信号高稳定性

3、高精确度的SIDSP探头特征曲线在生产过程中,EPK的SIDSP探头要经过严格的校准

4、SIDSP探头对温度变化不敏感

5、SIDSP探头适应性强

6、SIDSP N和FN型探头基体导电性补偿

           


 技术参数

主机型号

MiniTest720

MiniTest730

MiniTest740

探头类型

内置

外置

内置外置可换

数据记忆组数

10

10

100

存储数据量

*多10,000

*多10,000

*多100,000

统计值

读值个数、*小值、*大值、平均值、标准方差、变异系数、组统计值(标准设置/自由配置)

校准程序符合国际标准和规范

ISOSSPC、瑞典标准、澳大利亚标准

校准模式

出厂设置校准、零点校准、两点校准、三点校准,使用者可调节补偿值

极限值监控

声、光报警提示超过极限

测量单位

μmmmcmmilsinchthou

数据接口

IrDA 1.0(红外接口)

电源

2AA电池

标准

 

DIN EN ISO 14612064217823602808388219840

ASTM B244B499D7091E376

AS 3894.3SS 1841 60SSPC- PA 2

 

操作温度 /存放温度

-10℃~60℃/-20℃~70℃

体积

157mm x75.5mmx49mm

重量

175g

210g

175g(内置)/230g(外置)



                                                         

标准配置:

MINITEST 720(内置探头)
或MINITEST 730(外置探头)
或MINITEST740主机(不含探头,有各种探头可选)
校准套装含校准片和零板
操作使用说明CD,德语、英语、法语、西班牙语
2节AA电池






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