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FISCHERSCOPE X-RAY250 荧光X射线测量仪器
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  • FISCHERSCOPE X-RAY250 荧光X射线测量仪器

  • 产品编号 : FISCHERSCOPE X-RAY250
  • FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250和XAN 252是高性能,紧凑型且通用的X射线测量仪器,非常适合无损涂层厚度测量和材料分析
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产品描述


FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250和XAN 252是高性能,紧凑型且通用的X射线测量仪器,非常适合无损涂层厚度测量和材料分析。XAN 250和XAN 252仪器特别适合于测量和分析薄涂层,即使其成分非常复杂或浓度很小。高性能X射线荧光测量仪,用于快速无损材料分析和涂层厚度测量。高性能X射线荧光测量仪X-RAY XAN250,高性能X射线荧光测量仪,配有**进的硅漂移探测器(SDD),可快速、无损地进行RoHS检测、材料分析和镀层厚度测量。


主要特点

     ▪ 高性能机型,具有强大的综合测量能力
     ▪ 配有4 个电动调节的准直器和6个电动调节的基本虑片
     ▪ 配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD),还适用于更复杂的多元素分析
     ▪ 由下至上的测量方向,可以非常简便地实现样品定位

     ▪ 高性能X射线荧光测量仪X-RAY XAN250


典型应用领域

     ▪ 对电子和半导体行业中仅几个纳米的功能性镀层进行测量
     ▪ 对有害物质进行痕量分析,例如,玩具中的铅含量
     ▪ 在珠宝和手表业,以及在金属精炼领域,对合金进行高精度的分析

     ▪ 用于高校研究和工业研发领域 


FISCHERSCOPE X-RAY250 荧光X射线测量仪器


规格参数:

预期用途
能量色散X射线荧光测量仪(EDXRF)用于测量薄涂层,痕量元素和合金
元素范围
铝(13)到铀(92)–同时*多24个元素
测量方向
自下而上
X射线探测器
硅漂移检测器(SDD)
分辨率(fwhm for Mn-
≤ 160 eV
量点
Ø 1.2 mm (47 mils) with aperture Ø 1 mm (39 mils)平放样品(测量距离0毫米)
测量距离
0…25毫米(0…1英寸)
样品定位
手动
缩放系数
Digital 1x, 2x, 3x, 4x
*大样品重量
13 kg (29 lb)
电源
AC 115 V or AC 230 V 50 / 60 Hz
外形尺寸
 403 x 588 x 365 mm


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