产品描述

菲希尔荧光镀层测厚仪介绍：

在电镀或电子元件生产过程中需要快速且精确地测定镀层厚度时，XUL® 系列测量仪器是您的*选解决方案。X 射线荧光仪器可自下而上进行测量，能够在测量台上对样品进行轻松定位。该系列的所有 X 射线仪器均配备相同的探测器。您可以根据自己的测量需求选择不同的准直器、滤波器以及 X 射线管。

型号包括：

        ▪ FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® 210
        ▪ FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® 220
        ▪ FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® 240

特性：

    。 凭借宽大的测量室和自下而上的测量方向，即使大型样品（如：印制电路板或柔性电路板）也可简便、快速地定位
    。 硬件选项丰富多样，可满足各种测量需求
    。 可选配微聚焦 X 射线管，从而可测量直径仅为 100 µm 的微型结构和测量表面

应用：

    。 铬镀层，如：经过装饰性镀铬处理的塑料制品
    。 防腐蚀镀层，如钢材上的锌镀层
    。 印制电路板和柔性电路板上的镀层
    。 接插件和连接器上的镀层
    。 电镀槽液分析

特征：

    。 带玻璃窗口和钨靶的X射线管或带铍窗口和钨靶的微聚焦X射线管。 *高工作条件:50KV,50W
    。 X射线探测器采用比例接收器
    。 准直器:固定或4个自动切换，0.05 x0.05mm到直径00.3mm
    。 基本滤片:固定或3个自动切换
    。 测量距离可在0-27.5mm范围内调整
    。 固定的样品支撑台或手动XY工作台
    。 摄像头用来查看基本射线轴向方向的测量位置。 刻度线经过校准， 显示实际测量点大小。
    。 设计获得许可， 防护全面， 符合德国X射线条例第4章第3节

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