德国菲希尔FISCHER FERITSCOPE FMP30铁素体含量测试仪-------FERITSCOPE® FMP30根据磁感应方法 测量奥氏体钢和双相钢中的铁素体含量.适合于现场检测。
背景:化工设备和石油加工厂通常要承受高温、高压,同时要耐腐蚀。外部环境要求所用钢材即使在高温下也要有足够的耐腐蚀和耐酸性能。如果铁素体含量太低,焊缝受热后容易产生裂纹;如果铁素体含量太高,焊缝将丧失韧性和延展性。对于双相钢,如果铁素体含量太低,焊缝受到张力或发生振动时容易破裂。 FERITSCOPE根据磁感应方法测量奥氏体钢和双相钢中的铁素体含量。仪器能识别所有的磁性部件,也就是说,除了delta铁素体,还能识别其转化形式马氏体。仪器符合Basler标准和DIN 32514-1标准,适合于现场检测,可以测量奥氏体覆层、不锈钢管道、容器和锅炉焊缝内以及奥氏体钢或双相钢制造的其他产品内的铁素体含量。
※无损测量奥氏体钢和双相钢内的铁素体含量
※只需一次校准就能满足常用的测量范围0.1-90FN。
※测量范围:0.1-110 FN 或 0.1-80% Fe
※校准用的标准片可追溯到TWI二级标准片,也提供客户定制的标准片
※测量误差依据ANSI/AWS A4.2M/A4.2:1997标准
※仪器操作简便、大显示器,高对比度,240x160像素
※可调整的仪器自动关机和连续操作时间
※通过仪器按钮或PC可实现外部触发测量
※按键可锁定/限制操作模式
※开机后即可测量
※USB接口连接PC或打印机
※按键可锁定/限制操作模式
※机械滑盖保护测量时用不到的按键
化学和石油化工行业越来越多地使用双相钢,例如:图1和图2中的锅炉容器就是用高防腐性能的双相不锈钢制造的。如果焊缝处的铁素体含量过低,受到张力或发生振动时容易破裂。然而,在焊接双相钢时, 由于焊接添加剂或热处理不当,焊缝处的铁素体含量非常容易超标。只有现场检测才能确保处理过程不会改变铁素体含量,防止机械性能或防腐蚀性能的下降。
测量模式: 超出上下限时同时有声音和视觉警示信号
连续测量模式下,读数还可以在上下限之间模拟显示
矩阵测量模式下可以进行多点测量,例如:针对预先定义的表面排列
平均测量模式:仅储存多个读数的平均值 区域测量模式:探头提起后储存读数并取平均值
连续测量模式
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其他特性:
※离奇值控制功能可自动过滤错误测量值
※可以重写已储存的错误读数
※应用程式连接模式:可共享零位和校准信息
※通过可选的PC软件MP-Name可为应用程式命名
※通过可选的PC软件PC-Datex可将数据导出到Excel表格内
※通过可选的PC软件PC-Datacc可将数据导出到Access
※电池供电或外接充电器(选配件)
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标准配置
FERITSCOPE® FMP30 604-300,仪器,背带,仪器箱,电池组,打印版操作指导,CD光盘(含操作说明和USB驱动程序,连接电缆FMP/PC
标准片套件
订货号
校准标准片套件 CAL-SS %Fe-WRC 0.3/10 包括标准片:大约 0.4, 2.5 and 10.5 %Fe (0.4, 2 and 9 FN)
602-279
校准标准片套件 CAL-SS %Fe-WRC 1.5/30 包括标准片:大约 2.5, 10.5 and 30 %Fe (2, 9 and 33 FN)
602-239
校准标准片套件 CAL-SS %Fe-WRC 10/80 包括标准片:大约 10.5, 30 and 80 %Fe (9, 33 and 110 FN)
602-277
主校准标准片套件 CAL-SS %Fe-WRC 0.3/80 包括标准片:大约 0.5, 2.5, 14.5, 30, and 63 %Fe (0.5, 2, 9, 33 and 90 FN)
602-776
选配件 |
订货号 |
替换件 |
订货号 |
探头适配器 E-探头/F-插口 |
604-214 |
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充电器 FMP 30-40 |
604-290 |
背带 FMP |
604-150 |
可充电电池组 FMP (NiMH) |
604-295 |
连接电缆 FMP/PC |
604-146 |
打印电缆 DK-FMP |
604-145 |
电池组 FMP (碱性) |
604-296 |
打印机 F6100 |
604-291 |
英文操作指导 |
902-099 |
电池充电器 |
604-335 |
仪器箱 FMP |
604-148 |
命名软件 MP-Name |
602-966 |
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传输软件 PC-DATEX |
602-465 |
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传输软件 PC-DATACC |
603-028 |
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英文操作手册 |
902-097 |
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校准/标准片
上标明了两种单位:铁素体个数FN和百分比含量%Fe。可通过发货前设置修正系数或用客户定制的标准片校准仪器来减少工件几何形状(曲率、厚度等)对测量的影响。不同的校准信息分别储存在不同的应用程式内。