产品描述
德国Fischer X射线荧光测量仪用于金银合金快速无损分析及镀层厚度测量，菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220是一种优化的X射线荧光测量仪器，用于珠宝、硬币和贵金属的无损分析。它特别适合分析贵金属及其合金的成分和涂层厚度。在氯（17）到铀（92）范围内可同时测定多达24种元素。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220和XAN 222符合DIN ISO 3497和ASTM B568。
产品特点：
▪ 菲希尔XAN220型X射线金属材料分析仪为无损分析珠宝、钱币和贵金属特别优化设计；▪ 配备固定的准直器和基本虑片，特别适用于贵金属分析
▪ 配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD)，适用于更复杂的多元素分析
▪ 由下至上的测量方向，可以*简便地实现样品定位
典型应用领域包括：
▪ 珠宝、贵金属和牙科合金▪ 黄白色黄金
▪ 铂和银
▪ 铑
▪ 合金和涂层分析
▪ 多层涂层分析
| 预期用途 |
能量色散X射线测量仪（ED XRF）用于分析贵金属及其合金的成分和涂层厚度。 |
| 元素范围 |
硫S（16）至铀U（92）–同时多达24种元素 |
| 重复性 |
对于金≤0.5‰，测量时间60秒 |
| 设计 |
台式单元，带有向上打开的罩 |
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测量方向 |
自下而上 |
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X射线管 |
带铍窗的微焦点钨管 |
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高电压 |
3 steps：30 kV，40 kV，50 kV;*大阳极电流：1 mA |
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光圈（准直仪） |
Ø 1 mm (39 mils), 可选Ø 2 mm (79 mils) or Ø 0.6 mm (23.6 mils) |
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测量点 |
Ø 1.2 mm (47 mils) with aperture Ø 1 mm (39 mils)平放样品（测量距离0毫米） |
814294500
