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FISCHERSCOPE XDV-SDD荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE XDV-SDD荧光镀层测厚仪 FISCHERSCOPE XDV-SDD荧光镀层测厚仪 FISCHERSCOPE XDV-SDD荧光镀层测厚仪
  • FISCHERSCOPE XDV-SDD荧光镀层测厚仪

  • 产品编号 : XDV-SDD
  • XDV-SDD型仪器是FISCHER产品中性能强大的X射线荧光仪器之一。它配备了特别加大的硅漂移探测器(SDD)。50mm?的探测器窗口确保能快速而精确地测量甚至是小面积的测量点
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产品描述


XDV-SDD测量空间宽大,样品放置便捷,可以放置平整的样品,也可以放置形状复杂的大样品。连续测试或镀层厚度和元素分布的测量都可以方便地用快速可编程XY工作台完成。操作很人性化,测量门开启方便,仪器前部控制面板具备多种功能,日常使用轻松便捷。


XDV-SDD型仪器是FISCHER产品中性能强大的X射线荧光仪器之一。它配备了特别加大的硅漂移探测器(SDD)。50mm?的探测器窗口确保能快速而精确地测量甚至是小面积的测量点。此外,仪器还配备了各种不同的滤波片,从而能为不同的测量任务建立优化的激发条件。FISCHERSCOPE  XRAY XDVSDD型仪器配备了感应区域大而分辨率良好的硅漂移接收器,这样在使用大准直器的情况下,可以达到很高的计数率,从而实现良好的重复精度和极低的检测下限。XDV-SDD极其适合痕量分析中超薄镀层的测量。由于提高了低能辐射的灵敏度,同时可测元素的范围也扩“大到更低原子序数的元素,这样就可以可靠测量空气中的磷或铝。



应用实例:

法律条例严格限制多种有害物质的含量,例如电子元件,玩具或包装材料。XDV-SDD使得快速方便地检测是否符合这些限制成为可能。例如,测量检出限仅仅几个ppm的特别重要的化学元素Pb、Hg和Cd等。


金属中的有害物质,如铝合金中的Pb, Cd

玩具:检测其中的 Pb, Cd, Hg


特征:

      。带有铍窗口和钨钯的微聚焦X射线管。*高工作条件: 50kv, 50W
      。X射线探测器采用珀尔帖致冷的硅漂移探测器
      。准直器: 4个,可自动切换,从直径0.1mm到3mm
      。基本滤片: 6个,可自动切换带弹出功能的可编程XY平台
      。视频摄像头可用来实时查看测量位置,十字线上有经过校准的刻度标尺,而测量点实际大小也在图像中显示。
      。设计获得许可,防护全面,符合德国X射线条例第4章第3节

典型应用领域:

      。测量超薄镀层,例如电子和半导体行业
      。痕量分析,例如按照RoHS,玩具和包材指令检测有害物质
      。高精度黄金和贵金属分析光伏行业
      。测量NiP层的厚度和成分


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